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產(chǎn)品分類(lèi)
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X-ray無(wú)損檢測(cè),元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測(cè)方式,目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)(IQC)、失效分析(FA)、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計(jì)量可針對(duì)對(duì)金屬材料及零部件、電子元器件、電纜,裝具,塑料件等進(jìn)行X-ray無(wú)損檢測(cè)。
廣電計(jì)量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),可開(kāi)展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗(yàn),轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò)10s,溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、GB等標(biāo)準(zhǔn)。
錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來(lái)的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶,錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電,以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量錫須檢查,元器件及裝備失效分析服務(wù)擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備,經(jīng)驗(yàn)豐富的分析人才,能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測(cè)試服務(wù)。
離子清潔度通常是指線(xiàn)路板的離子清潔度,由于印刷線(xiàn)路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留,會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導(dǎo)致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng),最終引起了短路,過(guò)多的電流通過(guò)連接器,造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計(jì)量能提供離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn)服務(wù)。
廣電計(jì)量擁完整的剪切力拉力試驗(yàn)設(shè)備、X射線(xiàn)透視(xray)試驗(yàn)設(shè)備,并擁有完整的染色測(cè)試方法經(jīng)驗(yàn)與豐富的分析人才,能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),元器件失效測(cè)試。
廣電計(jì)量可滿(mǎn)足各等級(jí)電子元器件篩選,元件失效分析測(cè)試需求,提供電子元器件測(cè)試、評(píng)估、質(zhì)量保證的成套方案,幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備可靠性提升。
廣電計(jì)量電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證,失效分析機(jī)理檢驗(yàn)適應(yīng)于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類(lèi)電源產(chǎn)品的測(cè)試。電源模塊老煉試驗(yàn)通過(guò)對(duì)電源模塊施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力,在短時(shí)間內(nèi)讓不良品表現(xiàn)出失效現(xiàn)象,以達(dá)到提高電源模塊使用可靠性的目的。
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